交配的接口配合接口的几何形状对连接器的性能也起着关键作用。一般来说，业界认为最低反射与接口处接触衰退最小的连接器有关。尽管有一些很好的理论来支持这个前提，但是不能平等地对待所有连接器类型。一些连接器接口提供的阻抗控制比人们想象的要少。
虽然3.5 mm接口(例A)提供了对中心接触衰退的更好控制，但相关失配的实际阻抗约为80欧姆。在SMA的情况下，(例B)中心触点衰退通常更大，但失配的阻抗通常更低，大约70欧姆。如果SMA连接器的电介质同时凹入，则失配阻抗可能更高，但这种情况对于正确设计的SMA是罕见的。
因此，通过控制介质衰退，SMA界面的理论阻抗失配将低于3.5 mm界面，从而降低sianal反射结论(s)系统设计者在为低驻波比指定连接器时应考虑主机的几何形状。主(连接器)和次(电缆)接口尺寸之间的关系将影响连接器的设计拓扑和设计的最终驻波比潜力。制造商的设计参数和工艺控制对连接器性能的影响要比连接器的系列或名称大得多。
